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| 新技术可测量辐射的附带损伤 |
| 作者：佚名 出处：EurekAlert!中文版 浏览次数：3978（2008/8/21） |
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科学家发现了邻近受辐射细胞的细胞也被损伤的证据，这一发现可能促使人们对人工或自然辐射的安全剂量重新评估。Anna Saran及其同事通过研究电离辐射对小鼠脑的效应，从而开发了一种能测量动物辐射损伤的技术。这组作者发现小鼠小脑距离接触辐射的地方不远的细胞遭受了DNA损伤并产生了细胞凋亡（即程序性细胞死亡），即便那片特定区域被铅屏蔽。实验小鼠的一个对辐射敏感的基因（称为patched基因）有一个突变，这让它们更容易患癌症。这些小鼠遭受了辐射的长期效应，而对照组的小鼠只遭受了短期损伤。
此前在细胞培养中观察到了这种附带损伤，而且被认为是由于直接接触或者被辐射损伤的细胞之间的化学通讯造成的。这组科学家说，这种新技术将提供一种测量整个生物体的辐射损伤的方法。相关论文发表在美国《国家科学院院刊》（PNAS）上。
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